機器の紹介
製品表面を拡大したり、変色部に含まれる元素の定性分析が可能です。
主な仕様
メーカー名 | 日本電子株式会社 |
型式 | JSM-6610LA+JED2300SDD |
■走査電子顕微鏡
分解能 | 高真空 3.0nm(30KV) 低真空 4.0nm(30KV) |
倍率 | ×5〜×300,000倍 |
加速電圧 | 0.3kV〜30kV |
試料ステージ | X:125mm Y:100mm Z:5〜80mm |
最大試料寸法 | φ200mm |
備考 | 低真空機能を備えているため、非導電性試料の観察が可能です。 |
■X線元素分析装置
分析可能元素 | Be(ベリリウム)〜U(ウラン) |
エネルギー分解能 | 129eV |
備考 | 液体窒素レス検出器 電子顕微鏡の操作画面から容易に分析可能 高速マッピングが可能 |
使用料金
電子顕微鏡 5,140円(表面観察)
X線元素分析装置 8,740円
依頼試験
電子顕微鏡 10,800円(1件) 2件目以降 5,400円 写真代 410円
X線分析 定性分析 13,370円 2件目以降 6,680円
マッピング 17,480円 2件目以降 8,740円
機器の画像