機器の紹介

製品表面を拡大したり、変色部に含まれる元素の定性分析が可能です。

主な仕様

メーカー名 日本電子株式会社
型式 JSM-6610LA+JED2300SDD

■走査電子顕微鏡

分解能 高真空 3.0nm(30KV)
低真空 4.0nm(30KV)
倍率 ×5〜×300,000倍
加速電圧 0.3kV〜30kV
試料ステージ X:125mm Y:100mm Z:5〜80mm
最大試料寸法 φ200mm
備考 低真空機能を備えているため、非導電性試料の観察が可能です。

■X線元素分析装置

分析可能元素 Be(ベリリウム)〜U(ウラン)
エネルギー分解能 129eV
備考 液体窒素レス検出器
電子顕微鏡の操作画面から容易に分析可能
高速マッピングが可能

使用料金

電子顕微鏡 5,140円(表面観察)
X線元素分析装置 8,740円

依頼試験

電子顕微鏡 10,800円(1件) 2件目以降 5,400円 写真代 410円
X線分析 定性分析 13,370円 2件目以降 6,680円
マッピング 17,480円 2件目以降 8,740円

機器の画像